同步測得薄膜熱物性和熱電性能參數(shù)？林賽斯的TFA為您實現(xiàn)！

　　樣品幾何尺寸、物質(zhì)組分、熱分布不均等等的影響導(dǎo)致的一些結(jié)果誤差，是否讓您在測量薄膜的熱分析參數(shù)時頭疼不已？
 

　　在此林賽斯的薄膜綜合物性分析儀（TFA）給您提供了的解決方案。導(dǎo)熱系數(shù)、電阻率、電導(dǎo)率、塞貝克效應(yīng)，薄膜的霍爾效應(yīng)等一次測得，不受其他因素影響，結(jié)果可靠。
 

　　TFA采用芯片設(shè)計，樣品與傳感器緊密接觸，構(gòu)成一個縮小的熱帶法導(dǎo)熱測試模型；還可配置鎖相放大器等控制設(shè)備，以使用3ω方法，對樣品的in-plane和Cross-plane導(dǎo)熱進(jìn)行測量。
 

　　同時TFA可以測量不同材質(zhì)的樣品，金屬、陶瓷、半導(dǎo)體等無機(jī)薄膜或者有機(jī)薄膜。
 

林賽斯還為廣大科研工作者提供三個可選模塊，根據(jù)需要添加：
 

　　1、瞬態(tài)導(dǎo)熱測量模塊，使用鎖相放大器，配置3ω測量單元，可以測量平面和交叉面導(dǎo)熱系數(shù)，比熱等；
 

2、霍爾效應(yīng)測量模塊，配置磁場單元，可以測量霍爾電壓、遷移率和載流子濃度。
 

　　3、低溫附件，包括液氮控制器，杜瓦罐等。加裝低溫附件后，使用溫度可擴(kuò)展至-150℃-400℃。樣品架兩側(cè)均安裝有LN2管道，有利于樣品兩側(cè)的溫度控制。